产品简介
FS-Pro 半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压 (IV)测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在 FS-Pro 测试系统中完成。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程，并可与概伦 9812 系列噪声测试系统无缝集成，其快速 DC 测试能力进一步提升了 9812 系列产
品的噪声测试效率。
FS-Pro 釆用工业通用的 PXI 模块化硬件架构，系统扩展性强，还支持多通道并行测试，可进一步提升测试效率。系统内置专业测试软件 LabExpress 为用户提供了丰富的测试预设和强大的测试功能，可实现非常友好的用户即插即用体验。
FS-Pro 可广泛应用于各种半导体器件、LED 材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。
基于在产线测试与科研应用方面的优异表现，FS-Pro 不仅被众多芯片设计公司和代工厂、IDM 公司釆用，其全面的测试能力更在科研学术界受到了广泛关注和认可，目前已被数十所国内外高校及科学研究机构所选用。
